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Freitag 25.11.2022,  13:00 - 16:00 Uhr, online

Im Krankenhauskontext medizinischen und pflegerischen Kontext können verschiedenste Arten von Bias auftreten. Lernt ein KI-Modell beispielsweise aus Daten, die Benachteiligungen von Frauen beinhalteneine bestimmte Personengruppe benachteiligt, so kann das Modell diese Vorurteile übernehmen und in den Ausgaben widerspiegeln. Im ersten öffentlichen Workshop der beiden Projekte SmartHospital.NRW und ZERTIFIZERTE KI soll konkretisiert werden, wie sich Bias im Krankenhaus Kontext Smart Hospital präsentiert. Dazu wird das Thema Bias aus unterschiedlichen Perspektiven beleuchtet, u.a. Recht, Medizin und Technik. Für konkrete Einsatzszenarien des aus dem Projekts SmartHospital.NRW wird dann diskutiert, welche Bias-Arten auftreten können und es wird eine Einschätzung zu den Auswirkungen gegeben.

Die Ergebnisse dieser ersten Veranstaltung dienen als Grundlage für weitere Workshops, in denen u.a. erarbeitet werden soll, wie die im Krankenhauskontext identifizierten Arten von Bias aus technischer Sicht erfolgreich für die untersuchten Einsatzszenarien vermieden werden können.


Interessierte Teilnehmer*innen registrieren sich bitte für die Veranstaltung unter:  ANMELDUNG (Log-in Code:  smho-zki)


vsl. und KI von alleModeration:

13:00 - 13:10 Uhr

Begrüßung und Einleitung


13:10 - 13:15 Uhr

Vorstellung der Projekte

"

SmartHospital.NRW

"

und

"Zertifizierte KI"

ZERTIFIZIERTE KI

Dr. Jil Sander, UK Essen
Joachim Lonien, DIN

13:15 - 13:30 Uhr

Vorstellung

beispielhafter

ausgewählter Use Cases aus

"Smart Hospital

SmartHospital.NRW

"

Dario Antweiler, Fraunhofer IAIS
13:30-14:10 UhrEingangsstatements zu Bias aus rechtlicher PerspektiveProf. Dr. Frauke RostalskiEingangsstatements zu Bias und KI von technischer Perspektivetba, Universität zu Köln
Eingangsstatements zu Bias und KI von aus ethischer PerspektiveDr. Björn Schmitz Luhn, Universität Bonn
Eingangsstatements zu Bias und KI  von medizinischer Perspektivetbaaus pflegerischer PerspektiveLena Schendel, Jennifer Brendt-Müller, UK Essen

Eingangsstatements zu Bias aus technischer Perspektive

Dr.-Ing. Niklas Kühl, KIT

14:10 - 14:30 Uhr

Fragerunde

Umfrage zu

Statementvorträgen und Publikumsumfrage

Bias

Publikum

14:30 - 14:40 Uhr

Pause


14:40 - 15:50 Uhr

Gemeinsame Diskussion

der Expert*innen und Teilnehmenden

und Einschätzung der identifizierten Bias

Dr. Christian Temath, KI.NRW

Dr. Anke Diehl, UK Essen

Dr. Erik Weiss, Universität zu Köln

Publikum

Expert*innen aus den Eingangsstatements

15:50 - 16:00 Uhr

Zusammenfassung und Ausblick

Zusammenfassung 



Bei Fragen stehen wir Ihnen sehr gerne zur Verfügung.

Dr. rer. nat. Jil SanderElisabeth Liebert

Universitätsmedizin Essen (AöR)
E-Mail: jilElisabeth.sander@ukLiebert@uk-essen.de 

Rebekka Görge

Fraunhofer-Institut für Intelligente Analyse- und Informationssysteme IAIS
E-Mail: rebekka.goerge@iais.fraunhofer.de

Alexander Zimmermann
DIN
E-Mail: alexander.zimmermann@din.de
Telefon: +49 30 2601-2153gefördert durch:


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